CKX53倒置(zhi)顯(xian)微鏡幾種(zhong)常(chang)用(yong)的觀察方法

　　

　　保(bao)持(chi)顯(xian)CKX53倒置(zhi)顯(xian)微鏡使(shi)用(yong)場(chang)地(di)的(de)幹(gan)燥(zao)，盡管每臺徠(lai)卡系列(lie)顯(xian)微鏡均采用(yong)了(le)特(te)殊(shu)的防黴(mei)處(chu)理工藝(yi)，但當顯(xian)微鏡長期(qi)工作在濕(shi)度(du)較(jiao)大(da)的環(huan)境中，還是(shi)容易增(zeng)加(jia)黴(mei)變的(de)幾率，因此(ci)如(ru)顯(xian)微鏡不(bu)得(de)不(bu)工作在這些濕度較(jiao)大(da)的環(huan)境中，建議使(shi)用(yong)除濕(shi)機。

　　

　　另(ling)外(wai)，如(ru)發現光學元件表面(mian)有(you)霧(wu)狀(zhuang)，黴(mei)斑等不(bu)良(liang)情(qing)況(kuang)時，請(qing)立刻聯系(xi)徠(lai)卡專(zhuan)業人(ren)士，對您的顯(xian)微鏡進行專(zhuan)業維(wei)護保(bao)養(yang)。

　　

　　1、明視(shi)野(ye)法

　　

　　觀察試樣(yang)直接(jie)反射(she)光(guang)的方法。照(zhao)明燈的光通(tong)過物(wu)鏡垂(chui)直導向(xiang)而(er)入(ru)射(she)於(yu)試樣(yang)，來(lai)自試樣(yang)的直接(jie)反射(she)光(guang)通過CKX53倒置(zhi)顯(xian)微鏡物(wu)鏡即(ji)被(bei)觀察到(dao)。

　　

　　2、暗(an)視野(ye)法

　　

　　觀察試樣(yang)幹涉(she)及(ji)衍(yan)射(she)光(guang)的方法。照(zhao)明光(guang)線(xian)通(tong)過物(wu)鏡外(wai)圍(wei)斜(xie)射(she)於(yu)試樣(yang)，來(lai)自試樣(yang)的幹(gan)涉(she)及(ji)衍(yan)射(she)光(guang)即被(bei)觀察到(dao)。

　　

　　適(shi)用(yong)檢(jian)測(ce)試樣(yang)上微細的擦(ca)痕(hen)或裂痕(hen)、檢(jian)測(ce)晶(jing)片(pian)等試樣(yang)鏡狀(zhuang)表面(mian)。

　　

　　3、微分幹涉(she)對比(bi)法

　　

　　這是(shi)將用(yong)明視(shi)野(ye)法可(ke)能(neng)觀察不(bu)到(dao)的(de)試樣(yang)高度微小(xiao)差異通過改(gai)善(shan)對比(bi)法變(bian)為(wei)立體(ti)或(huo)三(san)維(wei)圖像的顯(xian)微觀察技術。照(zhao)明光(guang)由(you)微分幹涉(she)對比(bi)棱鏡(jing)變(bian)為(wei)兩(liang)束(shu)衍射(she)光(guang)。這兩(liang)束(shu)衍射(she)光(guang)使(shi)試樣(yang)高度差異造成(cheng)在光(guang)路(lu)上的(de)微小(xiao)差異，而(er)光(guang)路(lu)差異變為(wei)利用(yong)微分幹涉(she)對比(bi)棱鏡(jing)和檢(jian)偏(pian)振(zhen)器(qi)的(de)明暗(an)對(dui)比(bi)。

　　

　　再(zai)利用(yong)敏(min)感(gan)色板(ban)，加(jia)強(qiang)了(le)高度差異的顏(yan)色變(bian)化(hua)。

　　

　　適合檢(jian)測(ce)包(bao)括(kuo)金(jin)相(xiang)結(jie)構、礦物(wu)、磁頭(tou)、硬(ying)磁盤(pan)表面(mian)和晶片(pian)精(jing)制(zhi)表面(mian)等有(you)極(ji)其(qi)微細高度差異的試樣(yang)。

　　

　　4、偏(pian)振(zhen)光(guang)法

　　

　　這是(shi)使(shi)用(yong)由兩(liang)個(ge)壹(yi)組(zu)的(de)濾(lv)色鏡(jing)形成(cheng)偏(pian)光(guang)的(de)顯(xian)微觀察技術。這些偏(pian)光(guang)軸(zhou)始(shi)終保(bao)持(chi)相(xiang)互(hu)垂(chui)直。壹些試樣(yang)在兩(liang)個(ge)濾(lv)色鏡(jing)之間(jian)呈鮮(xian)明的(de)對(dui)比(bi)。或根(gen)據雙(shuang)折射(she)性能(neng)和定向(xiang)呈現顏(yan)色。在檢(jian)偏(pian)振(zhen)器(qi)插(cha)在目(mu)鏡前(qian)的觀察光路(lu)時，起(qi)偏(pian)振(zhen)器(qi)位於(yu)垂(chui)直照(zhao)明前(qian)面(mian)的(de)光路(lu)。

　　

　　適(shi)合觀察金相(xiang)結(jie)構，礦物(wu)和液(ye)晶(LCD)以及(ji)半導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)。

　　

　　5、熒(ying)光法

　　

　　本(ben)技術用(yong)於(yu)發出(chu)熒(ying)光(guang)的試樣(yang)。

　　

　　適合利用(yong)熒光(guang)法檢(jian)測(ce)晶(jing)片(pian)的(de)汙(wu)染(ran)，感(gan)光(guang)性樹脂(zhi)的(de)殘留(liu)物(wu)，以及(ji)檢(jian)測(ce)裂(lie)縫(feng)。